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SII-Filter Antlia 4.5nm Edge

Preisspanne: CHF 199 bis CHF 359

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Filtre Antlia SII 4.5nm EDGE

Capturez les émissions de soufre ionisé avec une clarté exceptionnelle grâce au filtre Antlia SII 4.5nm EDGE. Conçu pour l’astrophotographie, ce filtre optimise la transmission et le contraste pour des images détaillées du ciel profond.

Pourquoi choisir le filtre Antlia SII 4.5nm EDGE ?

  • Transmission élevée (>90% à 672.4nm) pour capturer les structures nébuleuses SII les plus faibles.
  • Bande passante étroite de 4.5nm pour maximiser le contraste et réduire le fond de ciel.
  • Suppression OD5 des longueurs d’onde parasites pour un meilleur rapport signal/bruit.
  • Compatibilité rapide avec des optiques jusqu’à f/3 sans perte significative de signal.
  • Fabrication de haute qualité : substrat optique monobloc, traitement de surface anti-rayures, bords noircis.

Ideale Anwendungen

  • Imagerie de nébuleuses à émission SII
  • Observation de nébuleuses planétaires et Wolf-Rayet
  • Captures des restes de supernova
  • Utilisation en ciel pollué ou en site sombre
  • Extension des sessions photo malgré la présence de la Lune

Spécifications techniques du filtre

Merkmal Detail
Typ SII 4.5nm EDGE
FWHM (Full Width at Half Maximum) 4.5nm
Longueur d’onde centrale (CWL) 672.4nm
Maximale Übertragung >90%
Blocage hors bande OD5 (0.001%) entre 300-1000nm
Dicke des Filters 2mm ± 0.05mm (Ø50mm : 3mm ± 0.05mm)
Substrat Verre optique monobloc non-collé
Oberflächenqualität S/D 60/40 (MIL-O-13830)
Front d’onde transmis λ/4 oder besser
Parallelität <30 arcsec
Garantie 3 Jahre gegen Delaminierung

Verfügbare Größen

  • Beritten: 1.25″, 2″.
  • Non monté : Ø31mm, Ø36mm, Ø50mm

Caractéristiques de la monture

  • Monture ultra-mince pour limiter le vignettage
  • Finition anodisée noire pour une protection optimale
  • Gravure laser inaltérable pour une identification durable

Spektralkurven

Avertissement important

Ne jamais regarder directement le soleil avec ce filtre. Cela entraînerait de graves lésions oculaires irréversibles.

 

 

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